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      植物冠層分析儀的原理介紹

      更新時間:2019-04-04      點擊次數(shù):1931
      植物冠層分析儀可廣泛應用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研,為進行冠層光能資源調查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質與光能利用間的關系。可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透光率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析及農(nóng)業(yè)科研工作。

      植物冠層分析儀工作原理:采用冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗的公式,通過冠層孔隙的測定,計算出冠層結構參數(shù)。

      LAI-2200C植物冠層分析儀利用“魚眼”光學傳感器(垂直視野范圍148°,水平視野范圍360°)測量樹冠上、下5個角度的透射光線,利用植被樹冠的輻射轉移模型計算葉面積指數(shù)、平均葉傾角、空隙比、聚集度指數(shù)等樹冠結構參數(shù)。

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